AVI-600 为紧凑型的主动隔振系统，是纳米技术大型仪器隔振的解决方案。对升级和整合到现有的需要低频隔振功能的设备来说是不错的选择，AVI-600 work station可自由选择整个系统的尺寸大小和配置，通过增加隔振模块的数量可以增加系统的承重（承重可至9000磅）。

　　AVI系列主动隔振台采用特殊隔振技术，适用于任何科研环境下，该隔振模块可以隔离6个空间方向的振动（包括水平方向和竖直方向），AVI系列主动隔振台利用控制器内的压电加速传感器将外界振动的压力信号转换为电信号发送至隔离模块中的压电换能器中，随后压电换能器将产生一个与BWIN传入压力大小相等，方向相反的压力信号来消除传入振动。隔振系统利用一个反馈回路消除隔振系统的机械共振。

　　UNICORN α500 低频消磁系统（EMICancelingSystem，又称消磁器），DC与AC双模式主动消磁器，采用高精度纯直流测量/反馈/控制电路，适用于改善1000H以下的低频电磁干扰环境。特别适用于各种电子显微镜、光刻机的环境磁场改善，消除低频电磁干扰。

　　KLA iNano 纳米压痕仪可轻松测量薄膜、涂层和少量材料。该仪器准确、灵活，并且用户友好，可以提供压痕、硬度、划痕和通用纳米级测试等多种纳米级机械测试。该仪器的力荷载和位移测量动态范围很大，因而可以实现从软聚合物到金属材料可重复测试。模块化选项适用于各种应用：材料性质分布、特定频率测试、刮擦和磨损以及高温测试。KLA iNano 纳米压痕仪提供了一整套测试扩展选项，包括样品加热、连续刚度测量、

　　KLA iMicro 纳米压痕仪可轻松测量硬涂层，薄膜和少量材料。该仪器准确BWIN、灵活，并且用户友好，可以提供压痕、硬度、划痕和通用纳米级测试等多种纳米级机械测试。可互换的驱动器能够提供大的动态范围的力荷载和位移，使研究人员能够对软聚合物到硬质金属和陶瓷等材料做出详尽及可重复的测试。模块化选项适用于各种应用：材料性质分布、特定频率测试、刮擦和磨损测试以及高温测试。

　　HORIBA LA-960V2激光粒径分布分析仪秉承HORIBA 一贯的以独创设计的传统，其直观的软件、附件和高效的性能，能解决广泛的应用问题。

　　HORIBA CN-300离心式纳米粒度分析仪能实现对未稀释和稀释样品粒径分布的高精度测量。 颗粒的粒度是按粒径大小分类后测量的，这是离心分离法的关键特点。因此，一次测量就能得到宽范围内的精度结果。HORIBA CN-300离心式纳米粒度分析仪可提供两种测量方法:密度梯度模式和均一模式”。

　　一台简洁小巧的装置能同时实现对纳米粒子三项参数的表征：粒径、Zeta电位和分子量。 纳米技术的研发是一个持续不断的过程，在分子和原子水平上控制物质以获得新、好、先进的材料和产品。为了得到效率高性能好的产品，并减少能量的消耗，HORIBA 推出了SZ-100V2纳米颗粒分析仪。此仪器通过简单操作即可对纳米颗粒进行多参数分析！

　　Filmetrics F20膜厚仪是一款兼具优异性价比与出色便携性的单点测量设备，广泛应用于半导体、材料研发及质量控制领域。其操作简便、测量快速，为各类薄膜厚度检测需求提供了经济可靠的解决方案。

　　HORIBA UVISEL Plus 相位调制型椭圆偏振光谱仪基于新版的电子设备，数据处理和高速单色仪，Fastacq技术能够为用户提供高分辨及快速的数据采集。FastAcq为薄膜表征特殊设计，双调制技术使您可以获得完整的测试结果。相位调制与消色差光学设计的结合提供了特别的膜厚测试效果。配备双单色仪系统的特殊设计满足用户的期望值，通过模块化的设计，更多的附件选择，使得仪器使用能变得灵活。